系統(tǒng)分析物聯(lián)網(wǎng)設(shè)備天線無需屏蔽箱

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測量帶天線的無線設(shè)計(jì)產(chǎn)品的輻射場型圖通常需要一個(gè)測試設(shè)備機(jī)架，但這個(gè)系統(tǒng)不需要電波暗室只要在中等大小的房間就能進(jìn)行。輻射場型圖表述了特定天線及其相關(guān)無線電路可能的覆蓋面，但產(chǎn)生這樣的場型圖很難。他們通常由測試信號(hào)發(fā)生器、接收器、寬帶接收天線產(chǎn)生，還有許多必備的測試附件如在測試中讓被測物轉(zhuǎn)動(dòng)的轉(zhuǎn)臺(tái)。另一種相對(duì)常見而不便宜的測試系統(tǒng)附件是暗室，它防止在感興趣的頻段出現(xiàn)射頻干擾。

工程師探討：天線的一致性、穩(wěn)定性、可靠性及其測量方法

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隨著移動(dòng)通信的不斷發(fā)展，移動(dòng)通信天線也經(jīng)歷了從單極化天線、雙極化天線到智能天線、MIMO天線乃至大規(guī)模陣列天線的發(fā)展歷程。中國移動(dòng)經(jīng)過4G大發(fā)展后，目前擁有大約150萬個(gè)基站，在網(wǎng)天饋質(zhì)量參差不齊。天線作為移動(dòng)通信網(wǎng)絡(luò)的感知器官在網(wǎng)絡(luò)中的地位越來越復(fù)雜，并且越來越重要。雖然天線的投資占比較小（僅占基站投資的3%左右），但是網(wǎng)絡(luò)故障的40%以上是由天饋系統(tǒng)引起的。天饋系統(tǒng)質(zhì)量下降會(huì)導(dǎo)致覆蓋性能變差，或者造成干擾問題，而且天線作為一種復(fù)雜的無源產(chǎn)品，其在網(wǎng)絡(luò)中很難監(jiān)測。

工程師科普：手機(jī)的無源和有源測試

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當(dāng)前在手機(jī)射頻性能測試中越來越關(guān)注整機(jī)輻射性能的測試，這種輻射性能反映了手機(jī)的最終發(fā)射和接收性能。目前主要有兩種方法對(duì)手機(jī)的輻射性能進(jìn)行考察：一種是從天線的輻射性能進(jìn)行判定，是目前較為傳統(tǒng)的天線測試方法，稱為無源測試；另一種是在特定微波暗室內(nèi)，測試手機(jī)的輻射功率和接收靈敏度，稱為有源測試。

實(shí)際生活中我們?nèi)绾螠y試手機(jī)天線

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隨著移動(dòng)通信的飛速發(fā)展和應(yīng)用，中國的手機(jī)行業(yè)也不斷發(fā)展壯大，當(dāng)然中國的手機(jī)用戶也在迅猛增長。而手機(jī)的射頻器件中，手機(jī)天線是無源器件，手機(jī)天線作為手機(jī)上面唯一的一個(gè)“量身定做”的器件，它的特殊性和重要性必然要求其研發(fā)過程對(duì)天線性能的測試要求非常嚴(yán)格，這樣才能確保手機(jī)的正常用。現(xiàn)在就簡單的介紹一下手機(jī)天線的研發(fā)過程中的幾種常見的手機(jī)天線測試方法

天線近場測量技術(shù)探討

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天線特性參數(shù)的測量有多種方法，目前，主要的方法包括三大類：天線的遠(yuǎn)場測量、天線的緊縮場測量、天線的近場測量。其中，因天線特性主要是定義在天線的遠(yuǎn)場區(qū)故遠(yuǎn)場測量更為直接準(zhǔn)確，而緊縮場測量天線主要是拉近遠(yuǎn)場所需遠(yuǎn)場條件：d≥2D2/λ，其通常采用一個(gè)拋物面金屬反射板，將饋源發(fā)送的球面波經(jīng)反射面反射形成平面波，在一定遠(yuǎn)距離處形成一個(gè)良好的靜區(qū)。將天線安置在靜區(qū)內(nèi)，測量天線的遠(yuǎn)場特性，其類似于遠(yuǎn)場測量，只是縮短測量距離，便于在理想遠(yuǎn)場環(huán)境（暗室）下進(jìn)行測量。

用頻譜儀測試天線方法總結(jié)

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天線性能的主要參數(shù)有方向圖、增益、輸入阻抗，駐波比，極化方試等，用頻譜儀對(duì)單收天線主要是對(duì)天線水平、俯仰方向的兩個(gè)方向圖測試，根據(jù)方向圖3dB處的角度，推算出天線增益，包絡(luò)線法則驗(yàn)證天線的性能。

天線近場測量的綜述

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天線工程一問世，天線測量就是人們一直關(guān)注的重要課題之一，方法的精確與否直接關(guān)系到與之配套系統(tǒng)的實(shí)用與否。隨著通訊設(shè)備不斷更新，對(duì)天線的要求愈來愈高，常規(guī)遠(yuǎn)場測量天線的方法由于實(shí)施中存在著許多困難，有時(shí)甚至無能為力，于是人們就渴望通過測量天線的源場而計(jì)算出其輻射場的方法。

天線輻射、散射近場測量及近場成像技術(shù)的研究進(jìn)展

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眾所周知，在離開被測目標(biāo)3λ～5λ(λ為工作波長)距離上測量該區(qū)域電磁場的技術(shù)稱為近場測量技術(shù)。如果被測目標(biāo)是輻射器，則稱為輻射近場測量;若被測目標(biāo)是散射體，則稱為散射近場測量;對(duì)測得散射體的散射近場信息進(jìn)行反演或逆推就能得到目標(biāo)的像函數(shù)，這就是目標(biāo)近場成像。

時(shí)域技術(shù)在天線測量中的應(yīng)用

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天線測試技術(shù)發(fā)展到目前，其測量方法已經(jīng)涉及到頻域、時(shí)域、空域及數(shù)字域。但常用的測量方法仍然以頻域?yàn)橹鳎l域測試的指標(biāo)只是得到該指標(biāo)對(duì)應(yīng)于頻率的綜合響應(yīng)，而無法分析和區(qū)分其他因素如接頭，傳輸線，饋電點(diǎn)，測試場環(huán)境反射對(duì)其影響和干擾程度，也難以去除這些影響測試準(zhǔn)確度的干擾。

移動(dòng)通信基站天線遠(yuǎn)場測量最小距離準(zhǔn)則

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天線方向圖遠(yuǎn)場測量的收發(fā)距離在理論上需要達(dá)到無窮遠(yuǎn)，以便發(fā)射源天線在被測天線口徑上的照射是理想的平面波，也即幅度均勻、相位同相。天線專業(yè)的實(shí)際應(yīng)用中，幅度為了滿足一定的均勻性(也即錐削度)需要降低源天線的方向性或者增加測量距離;相位為了滿足一定的同相要求必需增加測量距離。遠(yuǎn)場的最小距離準(zhǔn)則主要是根據(jù)被測天線口徑上照射的相位差來確定，對(duì)于常規(guī)天線，普遍認(rèn)為口徑照射相位差不得大于π/8弧度，根據(jù)這一原則，可以推導(dǎo)出收發(fā)天線的最小距離準(zhǔn)則是R≥2D2/λ。